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EPMA & SEM

<기기 사용 조건>

1. 논문의 분석방법에 극지연구소의 FE-EPMA/SEM(JEOL JXA-8530F/JSM-6610)을 사용해서 분석했음을 명시

2. 사사(Acknowledgements)에 극지연구소의 연구사업명 적시(연구사업명은 논문 투고시 문의)

 

JEOL JXA-8530F (Field-Emission Electron Probe Microanalyzer; FE-EPMA)

- 5 spectrometers + EDS

  • CH-1: LDE2H, TAPH
  • CH-2: LDE1, TAP
  • CH-3: PETL, LIFL
  • CH-4: PETJ, LIF
  • CH-5: PETH, LIFH

- Quantitative analysis, X-ray mapping (WDS + EDS)

2015-04-12 15.48.09.jpg

 

<False color X-ray maps>

False_color_Xray_maps.png

 

 

 

JEOL JSM-6610 (Scanning Electron Microscope; SEM)

 

- Qualitative analysis, X-ray mapping (EDS)

- Zoning image (CL)

2015-04-12 15.50.22.jpg

Zircon_CL.jpg

 

Thin section storage room

Optical_Microscope_lab.jpg

 

 

Korea Curation of Antarctic Meteorities
Korea Polar Research Institute
26, Songdomirae-ro, Yeonsu-gu, Incheon, Korea
Curator: changkun"at"kopri.re.kr

Copyright (C) Korea Polar Research Institute. All rights reserved.

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